概述
超声波涂层测厚仪，带数值显示，A/B扫描功能。采用脉冲反射超声波测厚原理，适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播，并能从其背面得到反射的超薄薄膜材料或者涂层厚度的测量。测量分辨率达0.001mm，测量范围薄至0.02mm，可以同时测量涂层和基材的厚度。
本产品可应用于石油、化工、冶金、造船、航空航天、能源等各个领域。
符合标准：《超声波测厚仪校准规范》 JJF 1126-2004。
主要功能
测量范围宽，最小测量厚度涂层20μm，最大测量厚度1800mm（具体材料而定，可扩展）；
可测每一层最薄0.02mm（20μm），对声速2310m/s的塑料材料，最低0.05mm（50μm）。对声速低于1000m/s的涂层材料，最薄可测0.02mm（20μm），加基材测量厚度最厚可达1800mm，可以测十层复合层每一层的厚度但不限于十层（无数层），且不限于涂层和基材的材质，任何材质均可以测量；
高精度测厚，最高测量分辨率可达0.001mm；重复分辨率可达±0.002mm；
A-扫描模式，B-扫描模式，数值显示模式；
具有穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料；
根据材料声速不同可以检测部分复合材料上的涂层和漆层，可以同时测量10个以上的多层材料各层厚度，同一回波下切换显示各层厚度值；
多种测量：THIN，MB-E，E-E，Auto模式满足对常规厚工件测量；THIN E-E模式对薄涂层测量；
数值模式包括常规厚度值模式、差值/缩减率模式和最值模式；
增益模式：自动增益/手动增益；
可设置手动关机与自动关机，带节能功能；
可使用多种不同规格探头，双晶探头和单晶探头，最高支持20MHz高频探头；
支持大容量存储，可同时存储10万个厚度值，500组A扫描波形和500组B扫描波形；
具有多种校准方式，支持一点校准、多点校准和手动校准模式，可以同时校准声速和探头零位；支持V声程校准；
公英制转换；毫米和英寸可切换单位；
中文和英文显示。
适用材料
测量金属和非金属（玻璃，复合材料，塑料，混凝土，木材等）基材上涂层厚度。
适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、树脂、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度。
基本原理
采用脉冲反射超声波测厚原理，适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播，并能从其背面得到反射的超薄薄膜材料或者涂层厚度的测量。
规格参数
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 型号 | YSTC28C |
| 探头类型 | 单晶/双晶 |
| 测量范围 | 20μm – 1800mm（具体材料而定，可扩展） |
| 测量频率 | 4Hz、8Hz、16Hz |
| 分辨率 | 0.1mm、0.01mm、0.001mm（0.01inch、0.001inch、0.0001inch） |
| 脉冲发生器 | 负方波发射，脉冲宽度和电压自动与探头进行匹配 |
| 声速范围 | 400-19999m/s |
| 校准试块 | 4mm（钢） |
| 自动关机 | 可选择5分钟，10分钟，20分钟，手动关机 |
| 探头校准 | 一点校准、二点校准，手动校准 |
| 增益 | 自动增益、手动增益 |
| 增益范围 | 0~80dB |
| 检波方式 | 射频RF、正半波POS、负半波NEG、全波FULL |
| 测量模式 | （1）THIN-EE：薄膜涂层模式；（2）MB-E：发射脉冲始波至一次回波；（3）E-E：穿透涂层测量，可选任意Em–En回波；（4）THIN：薄壁测量模式 |
| 数值模式 | 厚度值模式、差值/缩减率模式、最大/最小值模式 |
| A-扫描模式 | 支持 |
| B-扫描模式 | 支持 |
| 耦合指示 | 支持 |
| 电量指示 | 支持 |
| 语言 | 中文/英文(English) |
| 单位 | 毫米/英寸 (mm/inch) |
| 菜单操作 | 支持 |
| 软件功能 | 动态闸门设置、消隐设置(Blank)、回波消隐设置(E-Blank)、回波冻结、回波平移和缩放 |
| 存储功能 | 同时支持10万个厚度（100组，每组1000个），500组A扫描波形和500组B扫描波形 |
| 主机程序升级 | 支持主机程序升级 |
| 显示屏 | 3.5寸真彩色屏 |
| 数据传输 | 支持USB通信，将数据传输至计算机 |
| 工作温度 | -10℃～＋50℃，有特殊要求可达-20℃ |
| 工作电压 | 三节5号锂离子电池，当电量不足时，有低电压提示 |
| 外形尺寸 | 184 × 85 × 32 (mm) |
| 整机重量 | 250 g（不含电池） |
| 标准配置 | 主机1台（外观颜色随机）、双晶探头1个、5号锂电池3节、充电器1个、随机文件1套、防震防水仪器箱1个 |
* 产品图片以实物为准，以上参数为典型数值，参数变更恕不另行通知！
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