超声波涂层测厚仪 YSTC28

概述

超声波涂层测厚仪，带数值显示，A/B扫描功能。采用脉冲反射超声波测厚原理，适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播，并能从其背面得到反射的超薄薄膜材料或者涂层厚度的测量。测量分辨率达0.001mm，测量范围薄至0.02mm，可以同时测量涂层和基材的厚度。

本产品可应用于石油、化工、冶金、造船、航空航天、能源等各个领域。

符合标准：《超声波测厚仪校准规范》 JJF 1126-2004。

主要功能

• 测量范围宽，最小测量厚度涂层20μm，最大测量厚度1800mm（视具体材料而定，可扩展）；

• 可测每一层最薄0.02mm（20μm），对声速2310m/s的塑料材料，最低0.05mm（50μm）。对声速低于1000m/s的涂层材料，最薄可测0.02mm（20μm），加基材测量厚度最厚可达1800mm，可以测十层复合层每一层的厚度但不限于十层（无数层），且不限于涂层和基材的材质，任何材质均可以测量；

• 高精度测厚，最高测量分辨率可达0.001mm；重复分辨率可达±0.002mm；

• A-扫描模式，B-扫描模式，数值显示模式；

• 具有穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料；

• 根据材料声速不同可以检测部分复合材料上的涂层和漆层，可以同时测量10个以上的多层材料各层厚度，同一回波下切换显示各层厚度值；

• 多种测量：THIN，MB-E，E-E，Auto模式满足对常规厚工件测量；THIN E-E模式对薄涂层测量；

• 数值模式包括常规厚度值模式、差值/缩减率模式和最值模式；

• 增益模式：自动增益/手动增益；

• 可设置手动关机与自动关机，带节能功能；

• 可使用多种不同规格探头，双晶探头和单晶探头，最高支持20MHz高频探头；

• 支持大容量存储，可同时存储10万个厚度值，500组A扫描波形和500组B扫描波形；

• 具有多种校准方式，支持一点校准、多点校准和手动校准模式，可以同时校准声速和探头零位；支持V声程校准；

• 公英制转换，毫米和英寸可切换单位；

• 中文和英文显示。

适用材料

测量金属和非金属（玻璃，复合材料，塑料，混凝土，木材等）基材上涂层厚度。

适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、树脂、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度。

基本原理

采用脉冲反射超声波测厚原理，适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播，并能从其背面得到反射的超薄薄膜材料或者涂层厚度的测量。

规格参数